泰仕电子工业股份有限公司

膜厚计

• 0 - 1500μm
• 精确度: 2.5 %
• 自动判别 ”磁性金属” / ”非磁性金属” 底材之测量
• 测量磁性金属上 - 非磁性披膜之厚度及 非磁性金属上 - 绝缘膜厚度
• 膜厚度超出上下限之响声及显示警示功能
• 平均值、最大值、最小值及标准偏差功能
• 可选择测量厚度单位 μm/mils