膜厚计

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膜厚计
TES-96

膜厚计

  • 0 - 1500μm
  • 精确度: 2.5 %
  • 自动判别 ”磁性金属” / ”非磁性金属” 底材之测量
  • 测量磁性金属上 - 非磁性披膜之厚度及 非磁性金属上 - 绝缘膜厚度
  • 膜厚度超出上下限之响声及显示警示功能
  • 平均值、最大值、最小值及标准偏差功能
  • 可选择测量厚度单位 μm/mils
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