泰仕電子工業股份有限公司

膜厚計

• 0 - 1500μm
• 精確度: 2.5 %
• 自動判別 ”磁性金屬” / ”非磁性金屬” 底材之測量
• 測量磁性金屬上 - 非磁性披膜之厚度及 非磁性金屬上 - 絕緣膜厚度
• 膜厚度超出上下限之響聲及顯示警示功能
• 平均值、最大值、最小值及標準差功能
• 可選擇測量厚度單位 μm/mils